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Onde: D
hkl
é o tamanho do cristalito obtido a partir do pico de maior intensidade (hkl)
na direção de raios X; k é uma constante relacionada ao tipo de cristalito
apresentado pelo material, usualmente 0,9; λ é o comprimento de onda da radiação
incidente, no caso λ = 1,54056 Ǻ e θ é o ângulo de difração de Bragg.
A caracterização morfológica foi realizada através de um Microscópio de
Varredura a Laser (Confocal) marca OLYMPUS, modelo LEXT OLS4000 3D,
operando com um laser de 405nm e um conjunto ótico, gerando aumentos da ordem
de até 17091 vezes. O equipamento se encontra disponível no Setor de Materiais
Superduros do LAMAV/CCT/UENF. Esta caracterização tem como objetivo identificar
micro-rugosidades, micro-defeitos, trincas, entre outras características da superfície
dos filmes. A espessura dos filmes foi determinada através de uma média da análise
da secção transversal.
A caracterização ótica foi realizada através das medidas de transmitância
ótica, do coeficiente de absorção e da energia da banda Gap. O espectro de
transmitância foi obtido por meio de um espectrofotômetro modelo ZEISS VIS/UV
SPECORD 500, que se encontra no LCQUI/CCT/ UENF. A faixa de comprimento de
onda utilizada foi de 300 a 900nm.
O coeficiente de absorção ótico e a energia da banda
Gap
foram estimados
através das equações 2 e 3:
e
T
ln
(2)
Onde: α é o coeficiente de absorção ótico, T é a transmitância,
e
é a espessura
do filme.
2/1
)
(
)
(
g
E hv
C hv
(3)
Onde:
a
é o coeficiente de absorção ótico,
C
é uma constante relacionada ao índice
de refração de matéria, massa efetiva do elétron, velocidade da luz no vácuo,
hv
é a
energia do fóton e
E
g
é a energia da banda
Gap
.